レーザーフラッシュ法により
固体の熱拡散率または比熱容量を測定

熱伝導率測定装置はレーザーフラッシュ法により固体の熱拡散率または比熱容量を測定する装置です。
フラッシュ法加熱源としてNdガラスレーザーを用いていますが、試料の固体表面を傷めない程度で強いエネルギーを有しており、高いS/N比の信号をもたらします。赤外線温度検出器の検出素子にはInSbを用いており、室温から1,500 [℃]の広い温度範囲において良好な性能を示します。また、多素子型赤外線検出器を用いているため、比熱および熱拡散率の同時測定が可能となっています。

部署 有人宇宙技術部門 きぼう利用センター
設置場所 宇宙実験棟1階(材料系実験支援技術開発室)
試料寸法 2試料用はφ5mm×H5mmの円柱状試料
測定温度範囲 室温~1,500℃
測定精度 室温~700℃で±5%、700℃~1050℃で±20%
雰囲気ガス 真空中
不活性ガス中
大気中(但し、高温での大気中測定は不可)
測定方法 レーザーフラッシュ法によるハーフタイム法
照射光 光源: Ndガラスレーザー
入射エネルギー: およそ15[J/pulse]
入射パルス幅: およそ0.3 [msec]
試料測温用熱電対 R-type 1対
赤外線温度検出素子 InSb(φ0.6[mm],3個)
時間応答性能 10[KHz]以上
加熱炉 ±7[℃/min]以下
発熱体 ランタンクロマイトコンパウンド発熱体8本
制御熱電対 R-type 1対
料金 基本料金:53,587円 +(試験1回単価:40,520円 × 試験回数)

※利用料金は実験内容に伴い変動致しますので、参考の料金としてご覧下さい。詳細は下記フォームよりお問い合わせください。

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